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Scanning Tunneling Microscopy and Related Methods, Fachbücher von H. Rohrer, N. García, R. J. Behm
Das Fachbuch "Scanning Tunneling Microscopy and Related Methods" bietet eine umfassende Einführung in die Rastertunnelmikroskopie und verwandte Methoden. Verfasst von den renommierten Autoren H. Rohrer und N. García, richtet sich das Buch an Studierende und Fachleute im Bereich der Physik sowie der Mathematik und Naturwissenschaften. Mit 526 Seiten behandelt es sowohl theoretische als auch praktische Aspekte der Rastertunnelmikroskopie, die eine entscheidende Rolle in der modernen Materialwissenschaft spielt. Die erste Auflage, veröffentlicht im Jahr 2010, ist in englischer Sprache verfasst und bietet eine detaillierte Analyse der Techniken und Anwendungen dieser innovativen Mikroskopiemethode. Die kompakte Grösse von 16 cm in der Breite und 24 cm in der Höhe macht das Buch zu einem handlichen Begleiter für Studierende und Forscher.
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Scanning Capacitance Microscopy, Taschenbuch von Wolfgang Brezna, Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften, 978-3-8381-0267-2
Scanning Capacitance Microscopy, Taschenbuch Von Wolfgang Brezna, Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften, 978-3-8381-0267-2, Seitenanzahl: 156
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Novel sensors for scanning force microscopy based on carbon nanotube mechanical resonators, Taschenbuch von Christopher Friedrich Reiche, TUDpress,Novel Sensors For Scanning Force Microscopy Based On Carbon Nanotube Mechanical Resonators, Taschenbuch Von Christopher Friedrich Reiche, Tudpress, 978-3-95908-068-2, Seitenanzahl: 17636,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Atom Probe Microscopy, Fachbücher von Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, Simon P. RingerDas Buch "Atom Probe Microscopy" bietet eine umfassende Einführung in die Atomsondenmikroskopie, eine Technik, die es ermöglicht, die Struktur und Chemie von Materialien in drei Dimensionen mit nahezu atomarer Auflösung zu charakterisieren. In den letzten zehn Jahren hat sich das Gebiet durch bedeutende instrumentelle Fortschritte, wie die Entwicklung von Weitwinkel-Detektoren und pulslaserunterstützter Verdampfung, erheblich weiterentwickelt. Diese Fortschritte haben die Möglichkeiten der Technik erheblich erweitert und sie zu einem anerkannten Standardverfahren in der Materialcharakterisierung gemacht. Das Buch behandelt alle Aspekte der Atomsondenmikroskopie, einschliesslich der Feldionenmikroskopie und der Felddesorptionsmikroskopie, mit einem besonderen Fokus auf die Atomsondentomographie. Es richtet sich an Forschende aller Erfahrungsstufen und bietet sowohl Anfängern als auch erfahrenen Anwendern wertvolle Informationen und Referenzen.299,59 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Scanning Tunneling Microscopy and Related Methods, Fachbücher von H. Rohrer, N. García, R. J. BehmDas Fachbuch "Scanning Tunneling Microscopy and Related Methods" bietet eine umfassende Einführung in die Rastertunnelmikroskopie und verwandte Methoden. Verfasst von den renommierten Autoren H. Rohrer und N. García, richtet sich das Buch an Studierende und Fachleute im Bereich der Physik sowie der Mathematik und Naturwissenschaften. Mit 526 Seiten behandelt es sowohl theoretische als auch praktische Aspekte der Rastertunnelmikroskopie, die eine entscheidende Rolle in der modernen Materialwissenschaft spielt. Die erste Auflage, veröffentlicht im Jahr 2010, ist in englischer Sprache verfasst und bietet eine detaillierte Analyse der Techniken und Anwendungen dieser innovativen Mikroskopiemethode. Die kompakte Grösse von 16 cm in der Breite und 24 cm in der Höhe macht das Buch zu einem handlichen Begleiter für Studierende und Forscher.213,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Scanning Capacitance Microscopy, Taschenbuch von Wolfgang Brezna, Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften, 978-3-8381-0267-2Scanning Capacitance Microscopy, Taschenbuch Von Wolfgang Brezna, Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften, 978-3-8381-0267-2, Seitenanzahl: 15669,90 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Novel sensors for scanning force microscopy based on carbon nanotube mechanical resonators, Taschenbuch von Christopher Friedrich Reiche, TUDpress,Novel Sensors For Scanning Force Microscopy Based On Carbon Nanotube Mechanical Resonators, Taschenbuch Von Christopher Friedrich Reiche, Tudpress, 978-3-95908-068-2, Seitenanzahl: 17636,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Atom Probe Microscopy, Fachbücher von Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, Simon P. RingerDas Buch "Atom Probe Microscopy" bietet eine umfassende Einführung in die Atomsondenmikroskopie, eine Technik, die es ermöglicht, die Struktur und Chemie von Materialien in drei Dimensionen mit nahezu atomarer Auflösung zu charakterisieren. In den letzten zehn Jahren hat sich das Gebiet durch bedeutende instrumentelle Fortschritte, wie die Entwicklung von Weitwinkel-Detektoren und pulslaserunterstützter Verdampfung, erheblich weiterentwickelt. Diese Fortschritte haben die Möglichkeiten der Technik erheblich erweitert und sie zu einem anerkannten Standardverfahren in der Materialcharakterisierung gemacht. Das Buch behandelt alle Aspekte der Atomsondenmikroskopie, einschliesslich der Feldionenmikroskopie und der Felddesorptionsmikroskopie, mit einem besonderen Fokus auf die Atomsondentomographie. Es richtet sich an Forschende aller Erfahrungsstufen und bietet sowohl Anfängern als auch erfahrenen Anwendern wertvolle Informationen und Referenzen.299,59 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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